ThermalEMMI（熱紅外顯微鏡）是一種先進的非破壞性檢測技術，主要用于精細定位電子設備中的熱點區域，這些區域通常與潛在的故障、缺陷或性能問題密切相關。該技術可在不破壞被測對象的前提下，捕捉電子元件在工作狀態下釋放的熱輻射與光信號，為工程師提供關鍵的故障診斷線索和性能分析依據。在諸如復雜集成電路、高性能半導體器件以及精密印制電路板（PCB）等電子組件中，ThermalEMMI能夠快速識別出異常發熱或發光的區域，幫助工程師迅速定位問題根源，從而及時采取有效的維修或優化措施。鎖相熱成像系統結合電激勵技術，可實現對電子元件工作狀態的實時監測，及時發現潛在的過熱或接觸不良問題。半導體失效分析鎖相紅外熱成像系統測試

鎖相熱成像系統的電激勵方式在電子產業的 LED 芯片檢測中扮演著不可或缺的角色，為 LED 產品的質量提升提供了重要支持。LED 芯片是 pn 結，pn 結的質量直接決定了 LED 的發光效率、壽命和可靠性。如果 pn 結存在缺陷，如晶格失配、雜質污染等，會導致芯片的電光轉換效率下降，發熱增加，嚴重影響 LED 的性能。通過對 LED 芯片施加電激勵，使芯片處于工作狀態，缺陷處的電流分布和熱分布會出現異常，導致局部溫度升高。鎖相熱成像系統能夠精確檢測到這些溫度差異，并通過圖像處理技術，清晰顯示出 pn 結缺陷的位置和形態。

制造商可以根據檢測結果，篩選出良好的 LED 芯片，剔除不合格產品，從而提升 LED 燈具、顯示屏等產品的質量和使用壽命。例如，在 LED 顯示屏的生產過程中，利用該系統對 LED 芯片進行檢測，可使產品的不良率降低 30% 以上，推動了電子產業中 LED 領域的發展。 缺陷定位鎖相紅外熱成像系統平臺電激勵的波形選擇（正弦波、方波等）會影響熱信號的特征，鎖相熱成像系統需針對不同波形優化處理算法。

在當今科技飛速發展的時代，電子設備的性能與可靠性至關重要。從微小的芯片到復雜的電路板，任何一個環節出現故障都可能導致整個系統的崩潰。在這樣的背景下，蘇州致晟光電科技有限公司自主研發的實時瞬態鎖相熱分析系統（RTTLIT）應運而生，猶如一顆璀璨的明星，為電子行業的失效分析領域帶來了全新的解決方案。

致晟光電成立于 2024 年，總部位于江蘇蘇州，公司秉持著 “需求為本、科技創新” 的理念，專注于電子產品失效分析儀器設備的研發與制造。

在當今高科技蓬勃發展的時代，鎖相紅外熱成像系統也成其為“RTTLIT"以其獨特的優勢，正逐漸成為紅外檢測領域的新寵。該系統采用先進的鎖相技術，能夠捕捉目標物體的微小溫度變化，為各行業提供前所未有的熱成像解決方案。鎖相紅外熱成像系統優勢在于其高靈敏度和高分辨率的熱成像能力。無論是在復雜的工業環境中，還是在精密的科研實驗中，該系統都能以超凡的性能，準確快速地識別出熱異常，從而幫助用戶及時發現問題，有效預防潛在風險。
鎖相熱成像系統讓電激勵檢測效率大幅提升。

熱紅外顯微鏡（Thermal EMMI) 也是科研與教學領域的利器，其設備能捕捉微觀世界的熱信號。它將紅外探測與顯微技術結合，呈現物體表面溫度分布，分辨率達微米級，可觀察半導體芯片熱點、電子器件熱分布等。非接觸式測量是其一大優勢，無需與被測物體直接接觸，避免了對樣品的干擾，適用于多種類型的樣品檢測。實時成像功能可追蹤動態熱變化，如材料相變、化學反應熱釋放。在高校，熱紅外顯微鏡助力多學科實驗；在企業，為產品研發和質量檢測提供支持，推動各領域創新突破。鎖相熱成像系統讓電激勵檢測更具實用價值。非制冷鎖相紅外熱成像系統應用

非接觸式檢測在不破壞樣品的情況下實現成像，適用于各種封裝狀態的樣品，包括未開封的芯片和PCBA。半導體失效分析鎖相紅外熱成像系統測試

鎖相熱成像系統的組件各司其職，共同保障了系統的高效運行?？烧{諧激光器作為重要的熱源，能夠提供穩定且可調節頻率的周期性熱激勵，以適應不同被測物體的特性；紅外熱像儀則如同 “眼睛”，負責采集物體表面的溫度場分布，其高分辨率確保了溫度信息的細致捕捉；鎖相放大器是系統的 “中樞處理器” 之一，專門用于從復雜的信號中提取與激勵同頻的相位信息，過濾掉無關噪聲；數據處理單元則對收集到的信息進行綜合處理和分析，**終生成清晰、直觀的缺陷圖像。這些組件相互配合、協同工作，每個環節的運作都不可或缺，共同確保了系統能夠實現高分辨率、高對比度的檢測效果，滿足各種高精度檢測需求。半導體失效分析鎖相紅外熱成像系統測試