該研究所將晶圓鍵合技術(shù)與微機(jī)電系統(tǒng)（MEMS）的制備相結(jié)合，探索其在微型傳感器與執(zhí)行器中的應(yīng)用。在 MEMS 器件的多層結(jié)構(gòu)制備中，鍵合技術(shù)可實(shí)現(xiàn)不同功能層的精確組裝，提高器件的集成度與性能穩(wěn)定性。科研團(tuán)隊(duì)利用微納加工平臺(tái)的優(yōu)勢(shì)，在鍵合后的晶圓上進(jìn)行精細(xì)的結(jié)構(gòu)加工，制作出具有復(fù)雜三維結(jié)構(gòu)的 MEMS 器件原型。測(cè)試數(shù)據(jù)顯示，采用鍵合技術(shù)制備的器件在靈敏度與響應(yīng)速度上較傳統(tǒng)方法有一定提升。這些研究為 MEMS 技術(shù)的發(fā)展提供了新的工藝選擇，也拓寬了晶圓鍵合技術(shù)的應(yīng)用領(lǐng)域。晶圓鍵合為超構(gòu)光學(xué)系統(tǒng)提供多材料寬帶集成方案。佛山高溫晶圓鍵合加工廠

科研團(tuán)隊(duì)在晶圓鍵合的對(duì)準(zhǔn)技術(shù)上進(jìn)行改進(jìn)，針對(duì)大尺寸晶圓鍵合中對(duì)準(zhǔn)精度不足的問題，開發(fā)了一套基于圖像識(shí)別的對(duì)準(zhǔn)系統(tǒng)。該系統(tǒng)能實(shí)時(shí)捕捉晶圓邊緣的標(biāo)記點(diǎn)，通過算法調(diào)整晶圓的相對(duì)位置，使對(duì)準(zhǔn)誤差控制在較小范圍內(nèi)。在 6 英寸晶圓的鍵合實(shí)驗(yàn)中，該系統(tǒng)的對(duì)準(zhǔn)精度較傳統(tǒng)方法有明顯提升，鍵合后的界面錯(cuò)位現(xiàn)象明顯減少。這項(xiàng)技術(shù)改進(jìn)不僅提升了晶圓鍵合的工藝水平，也為其他需要高精度對(duì)準(zhǔn)的半導(dǎo)體工藝提供了參考，體現(xiàn)了研究所的技術(shù)創(chuàng)新能力。

東莞玻璃焊料晶圓鍵合廠商晶圓鍵合推動(dòng)自發(fā)光量子點(diǎn)顯示的色彩轉(zhuǎn)換層高效集成。

針對(duì)晶圓鍵合技術(shù)中的能耗問題，科研團(tuán)隊(duì)開展了節(jié)能工藝的研究，探索在保證鍵合質(zhì)量的前提下降低能耗的可能。通過優(yōu)化溫度 - 壓力曲線，縮短高溫保持時(shí)間，同時(shí)采用更高效的加熱方式，在實(shí)驗(yàn)中實(shí)現(xiàn)了能耗的一定程度降低。對(duì)比傳統(tǒng)工藝，改進(jìn)后的方案在鍵合強(qiáng)度上雖無明顯提升，但能耗降低了部分比例，且鍵合界面的質(zhì)量穩(wěn)定性不受影響。這項(xiàng)研究符合半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)綠色發(fā)展的趨勢(shì)，為晶圓鍵合技術(shù)的可持續(xù)應(yīng)用提供了思路，也體現(xiàn)了研究所對(duì)工藝細(xì)節(jié)的持續(xù)優(yōu)化精神。

晶圓鍵合重塑智慧農(nóng)業(yè)感知網(wǎng)絡(luò)。可降解聚乳酸-纖維素電路通過仿生葉脈結(jié)構(gòu)鍵合，環(huán)境濕度感知精度±0.3%RH。太陽能蟲害預(yù)警系統(tǒng)識(shí)別棉鈴蟲振翅頻率，預(yù)測(cè)準(zhǔn)確率97%。萬畝稻田實(shí)測(cè)減少農(nóng)藥使用45%，增產(chǎn)22%。自修復(fù)封裝層抵抗酸雨侵蝕，在東南亞季風(fēng)氣候區(qū)穩(wěn)定運(yùn)行五年。無線充電模塊實(shí)現(xiàn)農(nóng)機(jī)自動(dòng)能量補(bǔ)給，推動(dòng)無人農(nóng)場(chǎng)落地。晶圓鍵合突破神經(jīng)界面長(zhǎng)期記錄壁壘。聚多巴胺修飾電極表面促進(jìn)神經(jīng)突觸融合，腦電信號(hào)信噪比較傳統(tǒng)提升15dB。癲癇預(yù)測(cè)系統(tǒng)在8周連續(xù)監(jiān)測(cè)中誤報(bào)率<0.001次/天。臨床實(shí)驗(yàn)顯示帕金森患者運(yùn)動(dòng)遲緩癥狀改善83%，意念控制機(jī)械臂響應(yīng)延遲<100ms。生物活性涂層抑制膠質(zhì)細(xì)胞增生，為漸凍癥群體重建交流通道。晶圓鍵合實(shí)現(xiàn)多通道仿生嗅覺系統(tǒng)的高密度功能單元集成。

研究所將晶圓鍵合技術(shù)與集成電路設(shè)計(jì)領(lǐng)域的需求相結(jié)合，探索其在先進(jìn)封裝中的應(yīng)用可能。在與相關(guān)團(tuán)隊(duì)的合作中，科研人員分析鍵合工藝對(duì)芯片互連性能的影響，對(duì)比不同鍵合材料在導(dǎo)電性、導(dǎo)熱性方面的表現(xiàn)。利用微納加工平臺(tái)的精密布線技術(shù)，可在鍵合后的晶圓上實(shí)現(xiàn)更精細(xì)的電路連接，為提升集成電路的集成度提供支持。目前，在小尺寸芯片的堆疊鍵合實(shí)驗(yàn)中，已實(shí)現(xiàn)較高的對(duì)準(zhǔn)精度，信號(hào)傳輸效率較傳統(tǒng)封裝方式有一定改善。這些研究為鍵合技術(shù)在集成電路領(lǐng)域的應(yīng)用拓展了思路，也體現(xiàn)了研究所跨領(lǐng)域技術(shù)整合的能力。晶圓鍵合推動(dòng)磁存儲(chǔ)器實(shí)現(xiàn)高密度低功耗集成。河北共晶晶圓鍵合技術(shù)

晶圓鍵合提升微型推進(jìn)器在極端溫度下的結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性。佛山高溫晶圓鍵合加工廠

圍繞晶圓鍵合技術(shù)的中試轉(zhuǎn)化，研究所建立了從實(shí)驗(yàn)室工藝到中試生產(chǎn)的過渡流程，確保技術(shù)參數(shù)在放大過程中的穩(wěn)定性。在 2 英寸晶圓鍵合技術(shù)成熟的基礎(chǔ)上，團(tuán)隊(duì)逐步探索 6 英寸晶圓的中試工藝，通過改進(jìn)設(shè)備的承載能力與溫度控制精度，適應(yīng)更大尺寸晶圓的鍵合需求。中試過程中，重點(diǎn)監(jiān)測(cè)鍵合良率的變化，分析尺寸放大對(duì)工藝穩(wěn)定性的影響因素，針對(duì)性地調(diào)整參數(shù)設(shè)置。目前，6 英寸晶圓鍵合的中試良率已達(dá)到較高水平，為后續(xù)的產(chǎn)業(yè)化應(yīng)用提供了可行的技術(shù)方案，體現(xiàn)了研究所將科研成果轉(zhuǎn)化為實(shí)際生產(chǎn)力的能力。佛山高溫晶圓鍵合加工廠