電子束蒸發：將蒸發材料置于水冷坩堝中，利用電子束直接加熱使蒸發材料汽化并在襯底上凝結形成薄膜，是蒸度高熔點薄膜和高純薄膜的一種主要加熱方法。為了獲得性能良好的半導體電極Al膜，我們通過優化工藝參數，制備了一系列性能優越的Al薄膜。通過理論計算和性能測試，分析比較了電子束蒸發與磁控濺射兩種方法制備Al膜的特點。考慮Al膜的致密性就相當于考慮Al膜的晶粒的大小，密度以及能達到均勻化的程度，因為它也直接影響Al膜的其它性能，進而影響半導體嘩啦的性能。氣相沉積的多晶Al膜的晶粒尺寸隨著沉積過程中吸附原子或原子團在基片表面遷移率的增加而增加。由此可以看出Al膜的晶粒尺寸的大小將取決環于基片溫度、沉積速度、氣相原子在平行基片方面的速度分量、基片表面光潔度和化學活性等因素。真空鍍膜技術普遍應用于工業制造。惠州真空鍍膜設備

LPCVD設備中重要的工藝參數之一是反應溫度，因為它直接影響了反應速率、反應機理、反應產物、反應選擇性等方面。一般來說，反應溫度越高，反應速率越快，沉積速率越高；反應溫度越低，反應速率越慢，沉積速率越低。但是，并不是反應溫度越高越好，因為過高的反應溫度也會帶來一些不利的影響。例如，過高的反應溫度會導致氣體前驅體過早分解或聚合，從而降低沉積效率或增加副產物；過高的反應溫度會導致襯底材料發生熱損傷或熱擴散，從而降低襯底質量或改變襯底特性；過高的反應溫度會導致薄膜材料發生結晶或相變，從而改變薄膜結構或性能。廣州新型真空鍍膜LPCVD設備可以沉積多種類型的薄膜材料，如多晶硅、氮化硅、氧化硅、碳化硅等。

柵極氧化介電層除了純二氧化硅薄膜，也會用到氮氧化硅作為介質層，之所以用氮氧化硅來作為柵極氧化介電層，一方面是因為跟二氧化硅比，氮氧化硅具有較高的介電常數，在相同的等效二氧化硅厚度下，其柵極漏電流會降低；另一方面，氮氧化硅中的氮對PMOS多晶硅中硼元素有較好的阻擋作用，它可以防止離子注入和隨后的熱處理過程中，硼元素穿過柵極氧化層到溝道，引起溝道摻雜濃度的變化，從而影響閾值電壓的控制。作為柵極氧化介電層的氮氧化硅必須要有比較好的薄膜特性及工藝可控性，所以一般的工藝是先形成一層致密的、很薄的、高質量的二氧化硅層，然后通過對二氧化硅的氮化來實現的。

電介質在集成電路中主要提供器件、柵極和金屬互連間的絕緣，選擇的材料主要是氧化硅和氮化硅等。氧化硅薄膜可以通過熱氧化、化學氣相沉積和原子層沉積法的方法獲得。如果按照壓力來區分的話，熱氧化一般為常壓氧化工藝，快速熱氧化等。化學氣相沉積法一般有低壓化學氣相沉積氧化工藝，半大氣壓氣相沉積氧化工藝，增強等離子體化學氣相層積等。在熱氧化工藝中，主要使用的氧源是氣體氧氣、水等，而硅源則是單晶硅襯底或多晶硅、非晶硅等。氧氣會消耗硅（Si），多晶硅（Poly）產生氧化，通常二氧化硅的厚度會消耗0.54倍的硅，而消耗的多晶硅則相對少些。這個特性決定了熱氧化工藝只能應用在側墻工藝形成之前的氧化硅薄膜中。鍍膜層能有效提升產品的化學穩定性。

電子束蒸發蒸鍍如鎢(W）、鉬（Mo）等高熔點材料，需要在坩堝的結構上做一定的改進。高熔點的材料采用錠或者顆粒狀放在坩堝當中，因為水冷坩堝導熱過快，材料難以達到其蒸發的溫度。經過實驗的驗證，蒸發高熔點的材料可以用薄片來蒸鍍，將1mm材料薄片架空于碳坩堝上沿，薄片只能通過坩堝邊沿來導熱，散熱速率慢，有利于達到蒸發的熔點。采用此方法可滿足蒸鍍50nm以下的材料薄膜。PVD(氣相沉積)鍍膜技術主要分為三類，真空蒸發鍍膜、真空濺射鍍和真空離子鍍膜。對應于PVD技術的三個分類，相應的真空鍍膜設備也就有真空蒸發鍍膜機、真空濺射鍍膜機和真空離子鍍膜機這三種。近十多年來，真空離子鍍膜技術的發展是快的，它已經成為當今先進的表面處理方式之一。我們通常所說的PVD鍍膜，指的就是真空離子鍍膜；通常所說的PVD鍍膜機，指的也就是真空離子鍍膜機。真空鍍膜技術在汽車行業中應用普遍。韶關PVD真空鍍膜

真空鍍膜為產品提供完美的表面修飾。惠州真空鍍膜設備

LPCVD是低壓化學氣相沉積（LowPressureChemicalVaporDeposition）的簡稱，是一種在低壓條件下利用氣態化合物在基片表面發生化學反應并形成穩定固體薄膜的工藝。LPCVD是一種常用的CVD工藝，與常壓CVD（APCVD）、等離子體增強CVD（PECVD）、高密度等離子體CVD（HDPCVD）和原子層沉積（ALD）等其他CVD工藝相比，具有一些獨特的特點和優勢。LPCVD的原理是利用加熱設備作為熱源，將基片放置在反應室內，并維持一個低壓環境（通常在10-1000Pa之間）。然后向反應室內輸送含有所需薄膜材料元素的氣體或液體前驅體，使其與基片表面接觸并發生熱分解或氧化還原反應，從而在基片表面沉積出所需的薄膜材料。LPCVD可以沉積多種類型的薄膜材料，如多晶硅、氮化硅、氧化硅、氧化鋁、二硫化鉬等。惠州真空鍍膜設備