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紹興光纖式高溫計調試

來源: 發布時間:2025-09-16

雙色紅外測溫儀則通過測量兩個鄰近波段紅外輻射能量的比值確定溫度,比值與溫度呈線性關系。這種技術能有效消除水汽、灰塵、目標大小變化、部分遮擋及發射率變化的影響,即便信號衰減 95%,測溫結果仍不受干擾。它可測量小于視場的目標,允許安裝角度與測量方向夾角小于 45°,但當背景溫度高于被測溫度時不適用。思捷光電 STRONG 系列雙色儀采用該技術,在鋼材軋制、水泥窯、真空爐等復雜環境中表現優異,為工業生產提供更可靠的溫度監測。新能源單 / 多晶硅生產中,思捷測溫儀監測鑄錠、晶圓加工溫度。紹興光纖式高溫計調試

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玻璃熔融需在1400℃~1600℃高溫下進行,爐內玻璃液流動、揮發物多,傳統測溫方式難以實時準確監測。思捷針對玻璃行業推出紅外測溫儀解決方案,覆蓋熔爐、成型、鋼化全流程。玻璃熔爐(1400℃~1600℃)采用STRONG-SR-7016雙色測溫儀,疊層硅探測器適配高溫段,(0.7~1.08)μm/1.08μm波長可穿透爐內揮發物,200:1距離系數遠程監測玻璃液表面溫度,雙色模式不受爐內粉塵干擾,測量精度±0.5%T,確保熔融溫度穩定,減少氣泡與結石缺陷。玻璃成型過程(600℃~1000℃)選用STRONG-GR-3514,350℃~1400℃量程適配中低溫,InGaAs探測器對玻璃低發射率(0.6~0.8)適應性強,視頻瞄準準確定位成型模具溫度,避免成型偏差。鋼化玻璃工藝(200℃~700℃)用MARS-EXG系列,150℃~1200℃量程,擴展型InGaAs探測器抗鋼化爐內熱風干擾,實時監測玻璃冷卻速度。某玻璃廠應用后,玻璃成品缺陷率下降4.5%,鋼化強度提升15%。齊齊哈爾國產高溫計維修測溫范圍廣,紅外儀真給力!

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使用紅外高溫計時,避開常見誤區能讓測量更精細。不少人認為 “對準就行,不用管角度”,其實比較好測量角度是垂直于被測物體表面,傾斜角度超過 30°,會因測量面積變大混入周邊溫度,導致誤差;也別 “離得越近越好”,若距離小于**小測量距離(如 5 厘米),可能超出儀器的聚焦范圍,反而測不準。另外,別用它測透明物體(如玻璃、水)—— 紅外輻射會穿透這些物體,測到的其實是后方物體的溫度;測小目標時,一定要確認 D:S 比是否匹配,比如測直徑 2 厘米的螺栓,若儀器 D:S 比是 20:1,至少要站在 40 厘米外測量。掌握這些細節,才能讓它的性能充分發揮。

思捷STRONG系列雙色紅外測溫儀創新集成彩視頻瞄準功能,解決傳統瞄準方式(LED、目鏡)在復雜工況下的對準難題,尤其適用于遠距離、小目標及封閉環境測量。該功能采用400萬低照度CMOS傳感器,彩色模式0.01Lux@F1.2、黑白模式0.001Lux@F1.2,即使昏暗環境(如真空爐內部)也能清晰成像;支持H.265/H.264編碼,雙碼流輸出(主碼流2560×1792@25fps,子碼流720×576@25fps),兼顧畫質與傳輸速度;快門1/3秒至1/100000秒可調,適配快速移動目標(如熱軋線材)。視頻瞄準與目鏡瞄準同步,所見即所測,且成像為正像,避免傳統倒像瞄準的操作誤差;通過以太網接口(10/100M自適應)連接電腦,可遠程觀察目標與調整測溫點,無需現場操作。例如在半導體晶圓測溫中,晶圓尺寸只要12英寸,傳統LED瞄準難以準確定位,通過視頻瞄準可清晰鎖定晶圓中心區域,測溫偏差縮小至±1℃;某玻璃廠監測玻璃成型模具溫度,視頻瞄準穿透模具縫隙,實時觀察模具熱分布,優化冷卻工藝,玻璃成品率提升2.8%,充分體現該技術的準確與便捷。多塵環境使用時,可搭配吹掃裝置(壓力 0.1MPa,流量 6L/min)清潔鏡頭。

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便攜式紅外測溫儀體型小巧,重量較輕,大多能輕松放進衣兜或工具包,便攜性極強,是移動測溫場景的理想選擇。在電力巡檢中,工作人員帶著它穿梭在變電站的各種設備之間,能隨時對變壓器、線路接頭等進行溫度檢測,及時發現過熱隱患。在建筑施工現場,工程師可以拿著它在不同的施工區域間移動,快速測量混凝土、墻體的溫度,掌握施工進度。對于戶外作業的維修人員來說,隨身攜帶紅外測溫儀,能隨時對故障設備進行溫度排查,不用再費力搬運笨重的測溫設備,這種靈活性讓移動測溫變得高效又輕松。SMART 系列光纖式單色測溫儀,250℃高溫下堅守崗位,無需額外冷卻超省心。漳州在線式紅外高溫計零售價格

STRONG 系列防護等級達 IP65,可防塵防水。紹興光纖式高溫計調試

第三代半導體(如碳化硅、氮化鎵)長晶過程對溫度精度要求極高,長晶爐內溫度需控制在1500℃~2500℃,溫差超±5℃即影響晶體質量。思捷STRONG-SR系列雙色紅外測溫儀,憑借高精度、抗干擾特性,成為長晶爐測溫的關鍵設備。該系列采用疊層硅探測器,測溫精度±0.5%T,分辨率0.1℃,可實現長晶爐內溫度的微差監測。雙色測溫技術消除爐內惰性氣體(如氬氣)、粉塵及晶體揮發物對測量的干擾,即使光學通道存在輕微污染,仍保持數據準確。產品支持PID恒溫控制,探測器溫度穩定在40℃,全量程溫度補償避免環境溫度(帶水冷-20℃~+200℃)波動影響,確保長期測量精度。此外,視頻瞄準功能可清晰觀察爐內晶體生長狀態,所見即所測,便于準確定位測溫點;RS485通訊接口將溫度數據實時傳輸至長晶控制系統,實現溫度自動調節。某半導體企業應用后,碳化硅晶體缺陷率下降18%,長晶周期縮短10%,充分體現其技術優勢。紹興光纖式高溫計調試

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