紅外測溫儀探測器性能易受環境溫度影響，溫度波動可能導致測量偏差超10%。思捷光電所有系列產品均采用PID恒溫控制技術，配合全量程溫度補償，從根本上消除環境溫度對精度的干擾。PID恒溫控制通過內置加熱器與溫度傳感器，將探測器溫度穩定在40℃（可設40℃~60℃），精度±0.1℃，確保探測器性能穩定。例如STRONG系列雙色儀，即使環境溫度從-20℃升至+60℃（不帶水冷），測量精度仍保持±0.5%T，無明顯偏差；帶水冷型號在+200℃高溫環境下，通過PID控制與水冷協同，探測器溫度波動＜0.2℃。全量程溫度補償則針對不同測溫區間，預存溫度補償曲線，實時修正環境溫度帶來的誤差，例如在-50℃低溫段（部分型號覆蓋），補償后精度仍達±1℃。某冷鏈物流企業用思捷低溫紅外測溫儀（-50℃~300℃）監測冷庫溫度，環境溫度從-25℃波動至-15℃，傳統儀器偏差超3℃，思捷產品因PID恒溫與補償設計，偏差＜0.5℃，保障冷鏈食品存儲安全；工業場景中，該技術使設備在冬夏溫差40℃的車間內，全年測量精度穩定，無需頻繁校準。所有系列均內置 EMI 濾波器，可抗 2500VDC 脈沖群干擾。天津非接觸式高溫計常見問題

發射率是物體輻射紅外能力的衡量指標（取值 0-1），對紅外測溫儀的測量精度影響極大。理想黑體發射率為 1，而實際物體發射率受材質、表面狀態、溫度等影響 —— 比如光滑金屬表面發射率低（約 0.1-0.3），粗糙的非金屬表面發射率高（約 0.8-0.95）。若紅外測溫儀按默認發射率（通常 0.95）測量低發射率物體（如不銹鋼），會因物體輻射能量少而低估真實溫度。因此，專業紅外測溫儀都設有發射率調節功能：測量金屬時調低發射率，測量塑料、布料等時調至較高值。部分儀器還能自動識別常見材質并匹配發射率，減少人為調節誤差，讓不同物體的測溫更準確。紅外高溫計樣品“以創新提升品質，為客戶創造價值”，思捷用行動詮釋，為你提供品質測溫儀與貼心服務。

EX-SMART-F 系列雙色紅外測溫儀與單色測溫儀，抗干擾能力是兩者本質的區別。單色測溫儀在多塵、高濕環境中，鏡頭污染會導致發射率降低，測量溫度偏低；目標未充滿視場時，易受背景高溫影響，出現測量偏差。雙色測溫儀則因兩個波段信號同步衰減，比值不變，可忽略灰塵、水汽、目標遮擋的影響，且無需嚴格要求目標充滿視場，安裝靈活性更高。例如在鋼鐵廠線材軋制場景，線材快速移動且存在抖動，單色測溫儀易因目標未充滿視場導致數據波動，而雙色測溫儀能穩定捕捉真實溫度。

部分紅外測溫儀配有激光瞄準功能，其作用是輔助定位被測點，而非參與測溫（激光是可見光，與紅外輻射無關）。儀器發射的激光點（多為紅色）與紅外測量區域中心對應，使用者能通過激光點直觀知道 “正在測哪個位置”，尤其在測小目標或遠距離目標時很實用 —— 比如測電路板上的小電容，激光點能準確對準電容中心，避免誤測到周邊元件。激光瞄準有單點和環形兩種：單點瞄準適合小目標，環形瞄準則能顯示測量區域的范圍（如環形激光圈住的區域就是實際測量的范圍）。常州思捷紅外測溫儀，20 年技術沉淀，測溫穩又準！

為確保測量精度符合工業標準，思捷紅外測溫儀需定期按JJG856-2015《工作用輻射溫度計》檢定規程進行檢定，流程分為環境準備、參數設置、多點校準三步。環境準備：檢定環境需滿足溫度23℃±5℃，相對濕度35%~75%，大氣壓力86kPa~106kPa；根據測溫量程選擇黑體爐：低溫段（200℃~1150℃）用發射系數≥0.999的黑體爐（口徑50mm），中溫段（300℃~1700℃）用≥0.99的黑體爐（口徑25mm），高溫段（600℃~3000℃）用≥0.99的黑體爐（口徑25mm），測量距離均為1m。參數設置：將儀器通電預熱10分鐘，恢復出廠參數——單色模式發射率設為0.990（匹配黑體發射率），雙色模式斜率系數設為1.000，響應時間設為0.1s，檢測模式設為平均值。STRONG-SR 系列采用 Si/Si 疊層硅探測器。紹興在線式高溫計工廠直銷

思捷為鋼材制造提供焦爐、連鑄、型鋼軋制全流程測溫方案。天津非接觸式高溫計常見問題

第三代半導體（如碳化硅、氮化鎵）長晶過程對溫度精度要求極高，長晶爐內溫度需控制在1500℃~2500℃，溫差超±5℃即影響晶體質量。思捷STRONG-SR系列雙色紅外測溫儀，憑借高精度、抗干擾特性，成為長晶爐測溫的關鍵設備。該系列采用疊層硅探測器，測溫精度±0.5%T，分辨率0.1℃，可實現長晶爐內溫度的微差監測。雙色測溫技術消除爐內惰性氣體（如氬氣）、粉塵及晶體揮發物對測量的干擾，即使光學通道存在輕微污染，仍保持數據準確。產品支持PID恒溫控制，探測器溫度穩定在40℃，全量程溫度補償避免環境溫度（帶水冷-20℃~+200℃）波動影響，確保長期測量精度。此外，視頻瞄準功能可清晰觀察爐內晶體生長狀態，所見即所測，便于準確定位測溫點；RS485通訊接口將溫度數據實時傳輸至長晶控制系統，實現溫度自動調節。某半導體企業應用后，碳化硅晶體缺陷率下降18%，長晶周期縮短10%，充分體現其技術優勢。天津非接觸式高溫計常見問題